[发明专利]基于相关分析的PCB图像分块采样装置及方法有效
| 申请号： | 202010104106.1 | 申请日： | 2020-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN111415327B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 罗贵明;何悦 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/11;G06T7/73 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 王艳斌 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于相关分析的PCB图像分块采样装置及方法，其中，该装置主要包括：投影模块、相关分析模块、阈值计算模块和分区模块；投影模块用于将灰度图像投影至二维坐标系生成投影数组；相关分析模块用于将投影数组进行数据相关分析，生成自相关系数序列；阈值计算模块用于利用相关阈值算法对自相关系数序列进行计算，得到分区划分阈值；分区模块用于利用自相关系数序列和分区划分阈值对PCB灰度图像处理，生成PCB子板的区域坐标列表；采样模块用于根据PCB子板的区域坐标列表对PCB灰度图像进行图像块采样，确定采样框坐标。该装置减少了计算量，提高PCB缺陷的检测速度和检测精度，并可适用于其它图像的分区和采样。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 相关 分析 pcb 图像 分块 采样 装置 方法 | ||
【主权项】：
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