[发明专利]一种增材产品残余应力测试方法在审
| 申请号： | 202010083066.7 | 申请日： | 2020-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN111207869A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 郭金花 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00;G01N23/2005;G01N23/20 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李翔 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种增材产品残余应力测试方法，先通过电解抛光，将粗糙的增材产品表面进行抛光，然后通过控制电解的腐蚀电流和时间参数，实现对产品的逐层深入的剥层，然后在逐层深入剥层的过程中，通过X射线衍射方法测量沿剥层深度方向残余应力，本发明实施例提供的测试方法，不仅解决增材产品表面粗糙，无法直接测量的问题，同时克服了单纯X射线测量技术只能测表面的局限性，实现了增材产品深度方向残余应力的测量，同时具有操作简单，深度可控的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 产品 残余 应力 测试 方法 | ||
【主权项】：
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