[发明专利]质谱仪的质量校准有效
| 申请号： | 202010079357.9 | 申请日： | 2020-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN111554559B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | A·詹纳考普洛斯 | 申请（专利权）人： | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;周全 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开一种校准质谱仪10的方法以及用于所述质谱仪10的控制器200。所述质谱仪10包含生成样本离子的第一离子源20、生成外部校准物离子的第二离子源50以及质量分析器100。执行初步质量校准。在样本分析的时间段t之后，将外部校准物离子与所述样本离子分别引入到所述质谱仪10中。获得表示所述外部校准物离子的质荷比的数据。将所述外部校准物离子数据与参考外部校准物离子数据相比较以获得表示质量差的偏移值。如果此偏移低于阈值，则使用新的外部校准物离子数据修改所述初步校准。如果所述偏移高于阈值，则执行全面重新校准。 | ||
| 搜索关键词： | 质谱仪 质量 校准 | ||
【主权项】：
暂无信息
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