[发明专利]光偏振态测试装置及其测试方法在审
| 申请号： | 202010053336.X | 申请日： | 2020-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN111121970A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 陈伯纶;陈俊达;黄达人;孙宜嶙;王毓仁;谢怀安;林怡欣 | 申请（专利权）人： | 业成科技（成都）有限公司;业成光电（深圳）有限公司;英特盛科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J4/04 | 分类号： | G01J4/04 |
| 代理公司： | 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 | 代理人： | 杨冬梅;张行知 |
| 地址： | 611730 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光偏振态测试装置及其测试方法，光偏振态测试装置包括：液晶盒组，包括矩阵式排列的多个液晶盒，每个液晶盒受设定的电压控制以产生λ/4的相位延迟；偏光片，贴合设于液晶盒组的表面；光侦测器，设于偏光片的远离液晶盒组的一侧，用于接收光信号，并将光信号转化为电信号，光侦测器包括多个矩阵式排列的侦测单元，侦测单元与液晶盒的数量相同，且侦测单元的位置与液晶盒的位置在垂直方向上一一对应；分析单元，与光侦测器连接，用于根据电信号获取测试光的偏振态；其中，多个液晶盒以设定的规则进行配向，且每个液晶盒的配向方向互不相同。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
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