[发明专利]用于光学测距的方法和装置有效
| 申请号： | 202010046815.9 | 申请日： | 2020-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN111413706B | 公开（公告）日： | 2023-09-08 |
| 发明（设计）人： | 伯恩巴赫.沃尔夫冈 | 申请（专利权）人： | 微视公司 |
| 主分类号： | G01S17/14 | 分类号： | G01S17/14;G01S7/486;G01S7/48 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 韩峰;孙志湧 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学测距方法，尤其是利用时间相关的单光子计数，其中降低了存储需求和积分周期损失且提高了测距的精确度。其中由至少一个发射器(12)发射若干光学测量脉冲，其中光学测量脉冲在物体上反射，其中由至少一个接收器(14)检测被反射的光学测量脉冲的光子，其中检测到的光子的光飞行时间的第一分布(23)被确定，其中将光飞行时间的第一分布(23)储存在存储单元(24)的第一存储区域(25)中，其中将光飞行时间的第一分布(23)分配给第一多个时间间隔的时间间隔，其中在减少步骤中利用低通滤波器来减少或抑制高于预定截止频率的光飞行时间的第一分布(23)的频率部分，以便产生光飞行时间的第二分布(29)，其中将光飞行时间的第二分布(29)分配给第二多个时间间隔的时间间隔，且其中将低通滤波器(28)的阻塞频率选择为小于或等于第二多个时间间隔中的最小间隔宽度(39)的倒数值的一半。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 测距 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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