[发明专利]质量分析装置以及质量分析方法在审
申请号: | 201980095164.8 | 申请日: | 2019-05-08 |
公开(公告)号: | CN113711025A | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
发明(设计)人: | 田川雄介;石川勇树 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N27/626 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种质量分析装置,为了使离子源(31)中的对离子化效率造成影响的N种(其中N为2以上的整数)参数最优化而具备:测量控制部(41),对各部进行控制,以在使N种参数中的各参数的值、或者M种(其中M为小于N的整数)参数集中而得到的值的组多阶段地变化的同时,反复执行对包含目标成分的试样的测量;以及参数决定部(53),基于在该测量控制部(41)的控制下执行的测量的结果,依次找到针对各参数的最优值,该质量分析装置使物理量为温度的参数中的至少1种先于所有物理量为温度以外的参数最优化。 | ||
搜索关键词: | 质量 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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