[发明专利]质量分析装置以及质量分析方法在审

专利信息
申请号: 201980095164.8 申请日: 2019-05-08
公开(公告)号: CN113711025A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 田川雄介;石川勇树 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N27/626
代理公司: 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 代理人: 杨楷;毛立群
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种质量分析装置,为了使离子源(31)中的对离子化效率造成影响的N种(其中N为2以上的整数)参数最优化而具备:测量控制部(41),对各部进行控制,以在使N种参数中的各参数的值、或者M种(其中M为小于N的整数)参数集中而得到的值的组多阶段地变化的同时,反复执行对包含目标成分的试样的测量;以及参数决定部(53),基于在该测量控制部(41)的控制下执行的测量的结果,依次找到针对各参数的最优值,该质量分析装置使物理量为温度的参数中的至少1种先于所有物理量为温度以外的参数最优化。
搜索关键词: 质量 分析 装置 以及 方法
【主权项】:
暂无信息
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