[发明专利]使用根据内联相干成像ICI确定的成像信号密度来监视材料加工有效
| 申请号： | 201980085121.1 | 申请日： | 2019-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN113226623B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 克里斯托弗·M·加尔布雷思;乔丹·坎科;保罗·J·L·韦伯斯特;科勒·万乌拉茨科;吉纳维芙·艾利沙贝特·海斯 | 申请（专利权）人： | IPG光子公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;B23K26/03;B23K26/20 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 冯薇 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 系统、方法和装置用于使用针对例如在内联相干成像(ICI)期间被引导到工件或加工区域的成像光束计算的成像信号密度来监视材料加工。例如，可以使用成像信号密度来监视激光和电子束焊接工艺，例如完全熔透焊接或部分熔透焊接。在一些示例中，成像信号密度作为来自小孔底板和/或来自小孔下方的次表面结构的反射的结果来指示焊接熔透。例如，监视可以包括对焊接或材料加工或由此生产的部件的自动合格/失败或质量评估。还可以例如使用成像信号密度数据作为反馈来将成像信号密度用于控制焊接或材料加工。成像信号密度可以单独使用或与其他测量值或度量一起使用，例如与距离或深度测量值一起使用。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 根据 内联 相干 成像 ici 确定 信号 密度 监视 材料 加工 | ||
【主权项】：
暂无信息
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