[发明专利]测试装置在审
| 申请号： | 201980077749.7 | 申请日： | 2019-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN113167827A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 森田治;佐伯明德;冈本庆;小仓聪 | 申请（专利权）人： | 森田科技株式会社 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;H01Q1/12;H01Q1/52;H01Q3/02;H01Q21/06;H01Q21/24 |
| 代理公司： | 北京市怡丰律师事务所 11555 | 代理人： | 叶仲楠;杨溢 |
| 地址： | 日本神奈川县川崎市*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明以小规模且简单的构成来实施通信设备的特性测试。一种测试装置(1)，其在近场中实施通信设备(240)的通信天线(250)的特性测试，具备：托盘主体(220)，其在作为电波暗室的测试空间(S)内支承通信设备；以及耦合器支承框架(520)，其对在与通信天线(250)之间收发电波的耦合器天线进行支承。耦合器支承框架能够形成：内周耦合器天线阵列(300A、300B)，其由沿着曲线配置成至少一列的多个耦合器天线(300)构成，该曲线沿着由侧面(S1、S2)、顶面(S3)和底面(S4)构成的内周面延伸；以及后方耦合器天线阵列(300C)，其由沿着曲线至少在上下方向上配置成一列的多个耦合器天线(300)构成，该曲线沿着后面(S5)延伸。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
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