[发明专利]测试装置

说明书

本发明以小规模且简单的构成来实施通信设备的特性测试。一种测试装置(1)，其在近场中实施通信设备(240)的通信天线(250)的特性测试，具备：托盘主体(220)，其在作为电波暗室的测试空间(S)内支承通信设备；以及耦合器支承框架(520)，其对在与通信天线(250)之间收发电波的耦合器天线进行支承。耦合器支承框架能够形成：内周耦合器天线阵列(300A、300B)，其由沿着曲线配置成至少一列的多个耦合器天线(300)构成，该曲线沿着由侧面(S1、S2)、顶面(S3)和底面(S4)构成的内周面延伸；以及后方耦合器天线阵列(300C)，其由沿着曲线至少在上下方向上配置成一列的多个耦合器天线(300)构成，该曲线沿着后面(S5)延伸。

技术领域

本发明涉及一种通信设备的测试装置，其实施智能手机等通信设备所具备的微波波段用通信天线的特性测试，特别涉及一种在近场中实施固定配置的通信设备的特性测试的测试装置。

背景技术

智能手机等便携式终端、基站或者各种无线模块(以下统称为“通信设备”)必须符合电波法规定的技术标准，对于各通信设备，在开始运用前实施测试是否符合技术标准的特性测试。特性测试在电波暗室内实施，该电波暗室截止(或衰减)电波从外部的侵入和电波向外部的泄漏，并且在内部形成不反射电波的空间。

以往，在特性测试中使用的天线以喇叭天线为主。喇叭天线为相对于待测频带所具有的波长非常大的结构，因此存在如下缺点：若不使其离开被测物即通信设备例如1m以上，则无法进行准确的测定。当使用喇叭天线时，因与通信设备的距离变大，存在电波暗室的规模变得非常大的问题。进而，在确认从通信设备中放射的电波中包含的杂散分量未超过容许值的杂散测试中，需要测定非常微弱的放射电波。然而，当通信设备与喇叭天线之间的距离较大时，空间损耗变大，存在无法测定杂散分量的发射电平的问题。

另一方面，作为在距通信设备比较近距离的范围内对从被测物即通信设备放射的电波进行测定的装置，可列举专利文献1。专利文献1所记载的电磁波测定装置具备多个探针天线，其在任意的铅垂的一个平面内以正圆形包围被测物的周围。在专利文献1中，通过多个探针天线检测从被测物的天线放射的电波来测定各探针天线位置处的电波的强度，由此能够求得从被测物的天线放射的电波的指向性。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第4053981号公报

发明内容

发明所要解决的问题

在专利文献1中，主要着眼于收集检测被测物的电波的特性的数据，但由于探针天线不具有指向性，因此为了立体地测定从被测物的天线放射的电波的强度和方向性，在专利文献1中，使被测物即通信设备旋转。当如专利文献1那样需要使通信设备旋转的驱动装置时，存在装置的构成复杂、且装置规模变大的问题。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于能够以小规模且简单的构成来实施通信设备的特性测试。

用于解决问题的方案

为了解决上述课题，本发明的通信设备的测试装置，其在近场中实施所述通信设备所具备的微波波段或毫米波波段用的待测试天线的特性测试，其特征在于，具备：电波暗箱，其形成作为电波暗室的测试空间；通信设备支承单元，其在所述测试空间内支承所述通信设备；内周耦合器天线阵列，其由沿着曲线配置成至少一列并接收从所述待测试天线放射的电波或向所述待测试天线发送电波的多个耦合器天线构成，该曲线沿着由所述电波暗箱的相对的两个侧面、顶面和底面构成的内周面延伸；以及后方耦合器天线阵列，其由沿着曲线至少在上下方向上配置成一列并接收从所述待测试天线放射的电波或向所述待测试天线发送电波的多个耦合器天线构成，该曲线沿着与所述内周面的周向相交的后面延伸。

发明的效果

根据本发明，能够以小规模且简单的构成来实施通信设备的特性测试。

附图说明