[发明专利]测试装置在审
| 申请号: | 201980077749.7 | 申请日: | 2019-10-11 |
| 公开(公告)号: | CN113167827A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
| 发明(设计)人: | 森田治;佐伯明德;冈本庆;小仓聪 | 申请(专利权)人: | 森田科技株式会社 |
| 主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;H01Q1/12;H01Q1/52;H01Q3/02;H01Q21/06;H01Q21/24 |
| 代理公司: | 北京市怡丰律师事务所 11555 | 代理人: | 叶仲楠;杨溢 |
| 地址: | 日本神奈川县川崎市*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 装置 | ||
1.一种通信设备的测试装置,其在近场中实施所述通信设备所具备的微波波段或毫米波波段用的待测试天线的特性测试,
其特征在于,具备:
电波暗箱,其形成作为电波暗室的测试空间;
通信设备支承单元,其在所述测试空间内支承所述通信设备;以及
耦合器支承单元,其对接收从所述待测试天线放射的电波或向该待测试天线发送电波的多个耦合器天线进行支承,
该耦合器支承单元构成为能够形成:
内周耦合器天线阵列,其由沿着曲线配置成至少一列的多个耦合器天线构成,该曲线沿着由所述电波暗箱的相对的两个侧面、顶面和底面构成的内周面延伸;以及
后方耦合器天线阵列,其由沿着曲线至少在上下方向上配置成一列的多个耦合器天线构成,该曲线沿着与所述内周面的周向相交的后面延伸。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于:
所述耦合器支承单元构成为能够沿着所述电波暗箱的前后方向配置多列所述内周耦合器天线阵列。
3.根据权利要求1或2所述的测试装置,其特征在于:
所述耦合器支承单元构成为能够沿着所述电波暗箱的宽度方向配置多列所述后方耦合器天线阵列。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的测试装置,其特征在于:
所述各耦合器天线能够相对于所述耦合器支承单元选择性地拆装。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的测试装置,其特征在于:
所述各耦合器天线采取用于接收水平极化波的水平极化波姿势或用于接收垂直极化波的垂直极化波姿势,所述各耦合器天线能够选择性地以所述水平极化波姿势和所述垂直极化波姿势安装于所述耦合器支承单元。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试装置,其特征在于:
所述通信设备支承单元具有能够在与所支承的所述通信设备的所述待测试天线的水平方向相当的所述耦合器天线阵列内配置所述耦合器天线的结构。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的测试装置,其特征在于:
所述各耦合器天线配置在所述待测试天线向一个所述耦合器天线放射的电波在相邻的其他所述耦合器天线处充分地衰减的位置处。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的测试装置,其特征在于:
所述待测试天线与构成所述各耦合器天线阵列的各耦合器天线的距离是等距的。
9.一种通信设备的测试装置,其在近场中实施所述通信设备所具备的微波波段或毫米波波段用的待测试天线的特性测试,
其特征在于,具备:
电波暗箱,其形成作为电波暗室的测试空间;
通信设备支承单元,其在所述测试空间内支承所述通信设备;以及
耦合器支承单元,其对接收从所述待测试天线放射的电波或向该待测试天线发送电波的多个耦合器天线进行支承,
该耦合器支承单元构成为能够形成:
第一耦合器天线阵列,其构成为包括在以所述待测试天线为中心的第一圆弧上配置成一列的多个耦合器天线;以及
第二耦合器天线阵列,其构成为包括在以所述待测试天线为中心的第二圆弧上配置成一列的多个耦合器天线。
10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于:
具备XY台,其使所述耦合器支承单元在所述测试空间内水平移动。
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