[发明专利]利用感应传感器和光学位移传感器的厚度测量有效
| 申请号： | 201980064926.8 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN112789478B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·孔·耀·休斯;塞巴斯蒂安·蒂克西尔;托比亚斯·内贝尔 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06;G01B11/06 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 陈岚 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种传感器系统(100)，该传感器系统包括涡电流传感器(120)，该涡电流传感器包括至少一个线圈(120a)，该至少一个线圈具有耦合在该线圈两端的激励电子器件(121)。光学位移传感器(140)被固定到该涡电流传感器，使得这些传感器之间的垂直距离是固定的。该光学位移传感器位于该线圈的顶部并与该线圈同心，使得该光学位移传感器的测量轴线与该线圈的对称轴线共线。包括处理器(151)和存储器(152)的计算装置(150)被耦合以接收来自该涡电流传感器和该光学位移传感器的传感器数据，该计算装置适于分析从测量在金属基底(185)的至少一侧上包括涂层(187)的涂覆基底(180)中获得的该传感器数据，以至少确定该涂层的厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 感应 传感器 光学 位移 厚度 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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