[发明专利]被测装置取向和射频测量的相关性在审
| 申请号： | 201980062564.9 | 申请日： | 2019-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN112752976A | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | G·奥罗斯科瓦尔德斯;T·德克特;J·D·H·兰格;C·N·怀特;K·F·格罗希 | 申请（专利权）人： | 美国国家仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 鲍进 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 描述了用于集成电路(IC)的硬件定时测试的天线表征系统和方法，所述IC具有被配置用于空中传输和/或接收的集成天线。待测试IC(例如，被测装置(DUT))可以被安装到电波暗室中的可调定位器。所述IC的射频(RF)特性(例如，包含传输特性、接收特性和/或波束形成特性)可以使用所述电波暗室内的天线或探针阵列在空中进行测试，同时将所述可调定位器在多个取向中连续地转变。计数器和参考触发智能可以用于将测量结果与所述DUT的取向相关。 | ||
| 搜索关键词： | 装置 取向 射频 测量 相关性 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国国家仪器有限公司，未经美国国家仪器有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980062564.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
