[发明专利]被测装置取向和射频测量的相关性

权利要求书

1.一种用于将被测装置(DUT)的射频(RF)测量值与所述DUT的取向相关的系统，所述系统包括：

计算机，所述计算机耦合到非暂时性存储器介质；及

RF测量系统，所述RF测量系统耦合到所述计算机，

其中所述计算机被配置成将采集触发器序列传输到所述RF测量系统，

其中响应于在所述RF测量系统当前未采集RF测量值时接收到所述采集触发器序列中的第一采集触发器，所述RF测量系统被配置成将参考触发器传输到所述计算机，发起对所述DUT的RF测量，以及将所述RF测量的第一结果传输到所述计算机，

其中响应于在所述RF测量系统当前正在采集所述RF测量值时接收到所述采集触发器序列中的第二采集触发器，所述RF测量系统被配置成不将所述参考触发器传输到所述计算机并且不发起对所述DUT的所述RF测量，

其中所述计算机还被配置成：

从所述RF测量系统接收所述参考触发器和所述第一结果；以及

基于所述第一结果与所述DUT的确定取向的相关性来生成所述DUT的天线表征信息，其中至少部分地基于在从所述RF测量系统接收到所述参考触发器时存储在所述计算机上的一个或多个计数器的值来确定所述DUT的所述取向。

2.根据权利要求1所述的系统，

其中所述一个或多个计数器包括与所述DUT的第一旋转轴线相对应的第一计数器和与所述DUT的第二旋转轴线相对应的第二计数器，并且

其中当接收到所述参考触发器时所述第一计数器的值用于确定所述DUT围绕所述第一轴线的取向角，而当接收到所述参考触发器时所述第二计数器的值用于确定所述DUT围绕所述第二轴线的取向角。

3.根据权利要求2所述的系统，

其中所述第一计数器的所述值响应于所述DUT围绕所述第一轴线旋转而被修改，

其中所述第二计数器的所述值响应于所述DUT围绕所述第二轴线旋转而被修改，

其中所述计算机还被配置成：

对所述第一计数器和所述第二计数器中的任一个被修改的次数进行计数；以及

每当第N次修改所述第一计数器和所述第二计数器中的任一个时，将所述采集触发器序列中的采集触发器传输到所述RF测量系统，其中N是正整数。

4.根据权利要求1所述的系统，

其中响应于从取向所述DUT的可调定位器接收到的信号而修改所述一个或多个计数器的所述值，其中在一个或多个信道上接收与所述一个或多个计数器中的每一个相对应的所述信号。

5.根据权利要求4所述的系统，

其中所述一个或多个信道包括正交编码器方案的第一信道和第二信道，

其中所述修改所述一个或多个计数器的所述值包括递增或递减所述一个或多个计数器的所述值，并且

其中所述第一信道和所述第二信道的相应信号之间的相对相位确定计数器设备是递增还是递减所述一个或多个计数器的所述值。

6.根据权利要求4所述的系统，

其中所述修改所述一个或多个计数器的所述值包括递增或递减所述一个或多个计数器的所述值，

其中所述计算机包括边沿检测器，所述边沿检测器被配置成检测所述一个或多个计数器的递增值的时间上的前边沿和所述一个或多个计数器的递减值的时间上的后边沿，并且

其中响应于所述边沿检测器检测到所述一个或多个计数器的所述递增值的所述前边沿或所述一个或多个计数器的所述递减值的所述后边沿，执行所述通过所述计算机将所述采集触发器序列中的每个采集触发器传输到所述RF测量系统。

7.根据权利要求1所述的ACS，

其中所述采集所述DUT的多个测量值包括测量所述DUT的一个或多个天线在所述DUT的不同取向处的定向传输属性。

8.根据权利要求1所述的ACS，

其中所述采集所述DUT的多个测量值包括将RF信号传输到腔室内的所述DUT，以及测量所述DUT在所述DUT的不同取向处对所述RF信号的定向接收属性。