[发明专利]允许同时测量对象的角度和光谱发射的光学装置在审
申请号: | 201980028928.1 | 申请日: | 2019-03-29 |
公开(公告)号: | CN112041645A | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 蒂埃里·勒鲁 | 申请(专利权)人: | 埃尔迪姆公司 |
主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02;G01J3/50;G02F1/13;G01N21/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 高岩;杨林森 |
地址: | 法国圣*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于测量对象(1)的测量区域(2)的光谱发射的空间分布的系统(100),该系统包括:第一物镜(202);装置(204),用于选择由第一物镜形成的图像的片段;光阑(208);光分散装置(210),其位于光阑附近,并且允许分散来自选择装置的光;第二物镜(206),其被放置在选择装置与光阑之间,该第二物镜与第一物镜交互,使得光阑的孔径通过第一物镜和第二物镜与测量区域光学共轭,并且使得测量区域。根据本发明,第一物镜在预定的傅立叶表面上形成图像,在该预定的傅立叶表面上每个点对应于对象的针对一个特定波长的发射方向,选择装置具有形状取决于预定的傅立叶表面的选择表面,并且选择装置被放置在预定的傅立叶表面上。 | ||
搜索关键词: | 允许 同时 测量 对象 角度 光谱 发射 光学 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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