[实用新型]一种在线监测双玻漏光装置有效
| 申请号： | 201922137863.4 | 申请日： | 2019-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN211208392U | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 廉佳林;董皓;王平;李浩楠 | 申请（专利权）人： | 山西潞安太阳能科技有限责任公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/687 |
| 代理公司： | 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 | 代理人： | 李富元 |
| 地址： | 046000 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及太阳能电池生产领域，一种在线监测双玻漏光装置，包括箱体、传送带，箱体的两侧分别有传送带的进出口，传送带从箱体的进出口穿过，箱体的顶部安装有第一液压缸，第一液压缸的伸缩臂上安装有彩色冷光源发生装置，箱体的底部安装有第二液压缸，第二液压缸的伸缩臂上安装有镜检装置，箱体中还安装有用于测量双玻组件位置的红外距离测量装置和喷涂标记的喷漆枪，第一液压缸、第二液压缸、红外距离测量装置、喷漆枪、传送带的动力装置、彩色冷光源发生装置、镜检装置电信号连接PLC。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 在线 监测 漏光 装置 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
