[实用新型]一种垂直发光芯片测试装置有效
| 申请号： | 201921847128.6 | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN211878118U | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 张振峰;杨国良;邱德明 | 申请（专利权）人： | 武汉盛为芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01N21/88;G01C11/00 |
| 代理公司： | 武汉红观专利代理事务所(普通合伙) 42247 | 代理人： | 李季 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑、旋转座和伺服电机，所述旋转支撑上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨，所述圆形滑轨上方滑动连接有滑块，所述滑块上方通过螺钉连接有所述旋转座，所述旋转支撑内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机。有益效果在于：本实用新型通过在旋转座和旋转支撑之间设置圆形滑轨和圆形滑块，为旋转座的转动提供精准的导向，可以提高旋转座旋转过程中的平稳性，进而提高旋转座在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果，同时，可以通过升降调节开关可以控制电动推杆动作，对CCD检测镜头的高度进行调整，使得CCD检测镜头与芯片的距离调整到最佳位置，进而提高检测测试的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 垂直 发光 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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