[实用新型]一种垂直发光芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑、旋转座和伺服电机，所述旋转支撑上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨，所述圆形滑轨上方滑动连接有滑块，所述滑块上方通过螺钉连接有所述旋转座，所述旋转支撑内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机。有益效果在于：本实用新型通过在旋转座和旋转支撑之间设置圆形滑轨和圆形滑块，为旋转座的转动提供精准的导向，可以提高旋转座旋转过程中的平稳性，进而提高旋转座在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果，同时，可以通过升降调节开关可以控制电动推杆动作，对CCD检测镜头的高度进行调整，使得CCD检测镜头与芯片的距离调整到最佳位置，进而提高检测测试的质量。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试装置技术领域，具体涉及一种垂直发光芯片测试装置。

背景技术

芯片是集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，垂直发光芯片是芯片中的一种，在垂直发光芯片的生产中，需要对成品发光芯片进行质量测试，以测定发光芯片的内部电路是否联通。

但是现有的垂直发光芯片测试装置在对芯片测试过程中，芯片的移动精度不是很高，在固定位置停留时存在一定的误差，影响芯片检测测试的质量，同时，现有的装置在对CCD测试镜头的高度进行调整时，大都通过手动方式进行，调整效率和精度较低。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

为了克服现有技术不足，现提出一种垂直发光芯片测试装置，解决了现有的垂直发光芯片测试装置在对芯片测试过程中，芯片的移动精度不是很高，在固定位置停留时存在一定的误差，影响芯片检测测试的质量，以及在对CCD测试镜头的高度进行调整时，大都通过手动方式进行，调整效率和精度较低的问题。

(二)技术方案

本实用新型通过如下技术方案实现：本实用新型提出了一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑、旋转座和伺服电机，所述旋转支撑上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨，所述圆形滑轨上方滑动连接有滑块，所述滑块上方通过螺钉连接有所述旋转座，所述旋转支撑内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机，所述伺服电机输出端与所述旋转座通过键连接，所述伺服电机与所述旋转支撑转动连接。

通过采用上述技术方案，通过在所述旋转座和所述旋转支撑之间设置圆形滑轨和圆形滑块，为所述旋转座的转动提供精准的导向，可以提高旋转座旋转过程中的平稳性，进而，提高所述旋转座在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果。

进一步的，所述旋转座上方外侧通过螺钉连接有放料位，所述放料位一侧通过螺钉连接有扩展位，所述扩展位一侧通过螺钉连接有检测位，所述检测位一侧通过螺钉连接有修正位。

通过采用上述技术方案，可以将需要检测的芯片放置在所述放料位上，然后在所述修正位置后，通过外部的机械手等部件对芯片的位置进行修正，抵达所述CCD检测镜头下方时，对芯片进行检测测试，到达所述扩展位处进行扩展。

进一步的，所述旋转支撑下方通过螺栓连接有工作台，所述工作台下方四角处设置有支撑腿，所述支撑腿与所述工作台通过螺栓连接。

进一步的，所述工作台上方一侧通过螺栓连接有立板支撑，所述立板支撑一侧壁上通过螺钉连接有升降调节开关。

通过采用上述技术方案，所述升降调节开关可以控制所述电动推杆动作，对所述CCD检测镜头的高度进行调整，使得所述CCD检测镜头与芯片的距离调整到最佳位置，进而提高检测测试的质量。

进一步的，所述立板支撑上方通过螺栓连接有顶部支撑，所述顶部支撑下方一侧通过螺栓连接有电动推杆。

通过采用上述技术方案，所述顶部支撑可以为所述电动推杆提供稳定的支撑。

进一步的，所述电动推杆下方通过螺钉连接有检测镜头支撑，所述检测镜头支撑为圆柱形。