[实用新型]用于半导体设备的安装位检测装置有效

专利信息
申请号: 201921021565.2 申请日: 2019-07-03
公开(公告)号: CN210221072U 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 王迪杏;蒋伟;王宁;张阳;秦文兵;王金裕;苗全;盛路阳;王伟;顾育琪 申请(专利权)人: 无锡迪渊特科技有限公司
主分类号: G01C9/20 分类号: G01C9/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214000 江苏省无锡市新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了用于半导体设备的安装位检测装置,包括检测环体,检测环体的内壁上连接有连接柱,连接柱的顶部中间开设有活动槽,检测环体的底部连接有衔接立柱,衔接立柱远离检测环体的一端连接有放置板,放置板的内壁上连接有辅助撑板,本实用新型所达到的有益效果是:通过辅助撑板能够使连接柱自身的稳定性更强,通过将放置板安放在环体结构上,在放置前,需要将放置板的底部和环体结构擦拭干净,避免微尘影响检测结果,水平检测仪为液位检测仪,通过观察液位的不同能够直观的了解到环体结构安装的水平状态,能够及时的做出相对应的调整,衔接立柱为竖立的水平检测柱制作,通过衔接立柱能够与水平检测仪配合,使检测的水平度更加精准。
搜索关键词: 用于 半导体设备 安装 检测 装置
【主权项】:
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