[实用新型]一种光学元件平面度的测量工具有效
| 申请号： | 201920995134.X | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN210570449U | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 吴德国 | 申请（专利权）人： | 成都欧光光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28 |
| 代理公司： | 成都熠邦鼎立专利代理有限公司 51263 | 代理人： | 汤楚莹 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种光学元件平面度的测量工具，包括底座和固定板，底座的上方后端固定安装有固定板，底座的上方中部固定安装有上滑轨，固定板正表面的左右两端均固定安装有固定面，两个固定面之间固定安装有测量纸，上滑轨中嵌入设置有橡胶壳，橡胶壳的内部固定连接有限位弹簧，橡胶壳的中部嵌入设置有嵌套杆，嵌套杆的底部无缝焊接有螺纹层，嵌套杆的底部嵌入设置有测量杆，测量杆的上方背面固定安装有记号笔。本实用新型使用更加便捷，可快速将光学元件的平面度测出，可测量各种大小的光学元件，适用范围更广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 平面 测量 工具 | ||
【主权项】：
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