[实用新型]一种发光二极管的检测结构有效
| 申请号： | 201920641172.5 | 申请日： | 2019-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN210349778U | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 林少洲 | 申请（专利权）人： | 深圳市蓝威灵光电有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L33/00 |
| 代理公司： | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 | 代理人： | 周鑫 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种发光二极管的检测结构，包括底座、检测槽、安装架、驱动气缸、竖直压力检测组件和水平压力检测组件；检测槽设置在底座上，检测槽的槽底上设置有固定件；安装架设置在检测槽上；驱动气缸和竖直压力检测组件均位于安装架上；水平压力检测组件设置在检测槽内部。本实用新型设置固定件作用，使得发光二极管固定在检测槽内，避免发光二极管在检测过程中位移，影响检测结果的准确性；设置竖直压力检测组件和平压力检测组件作用，对发光二极管竖直方向和水平方向的承压能力进行检测，再配合第一压力感受器和第二压力感受器的监测，保证了检测结果的准确性，操作简单，同时设置检测槽，用于检测发光二极管的密封性能，功能多样，实用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 检测 结构 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
