[发明专利]基于FPGA的多通道时间测量系统、方法及激光扫描仪在审
申请号: | 201911391765.1 | 申请日: | 2019-12-30 |
公开(公告)号: | CN111007520A | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 刘汝卿;蒋衍;朱精果;李锋;姜成昊 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G01S17/02 | 分类号: | G01S17/02;G01S7/48 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王娇娇 |
地址: | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供了基于FPGA的多通道时间测量系统、方法及激光扫描仪,对激光扫描仪发射的激光信号及任一通道接收到的激光回波信号进行预处理,从而消除输入至该系统的输入信号的不稳定性,即提高了输入信号的准确度,因此,能够在一定程度上提高测量时间结果的精确度。同时,在得到各个通道对应的测量时间结果后,利用校准单元对各个通道对应的测量时间结果进行校准使得测得的各个通道的时间保持良好的一致性,即在一定程度上提高了每个测量通道的时间测量精确度。而且,各个通道的校准参数存储在上位机中,再由上位机将系统当前场景对应的校准参数发送至FPGA,这样无需要在FPGA中烧录校准参数,操作简单,而且,可以根据使用场景不同随时调整校准参数。 | ||
搜索关键词: | 基于 fpga 通道 时间 测量 系统 方法 激光 扫描仪 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911391765.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种观瞄设备的控制方法、装置及观瞄设备
- 下一篇:一种竖向移动式水射流切割机