[发明专利]一种碳化硼中硼-10丰度的热电离质谱检测方法在审
| 申请号： | 201911362897.1 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN113049667A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 杨永明;陈艳宏;张博涵;李歆;杨利春 | 申请（专利权）人： | 中核北方核燃料元件有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/626 | 分类号： | G01N27/626 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 张雅丁 |
| 地址： | 014035 内蒙古*** | 国省代码： | 内蒙古;15 |
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| 摘要： | 本发明涉及热电离质谱检测技术领域，具体公开了一种碳化硼中硼‑10丰度的热电离质谱检测方法，包括以下步骤：步骤1：样品处理；步骤2：样品测定；步骤3：样品丰度计算。本发明建立了碳化硼粉末及芯块中硼‑10丰度的热电离质谱检测方法，检测精密度优于0.1％。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 碳化 硼中硼 10 电离 检测 方法 | ||
【主权项】：
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