[发明专利]一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法有效
| 申请号： | 201911341040.1 | 申请日： | 2019-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN110940260B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 刘忠丽;姜莉琴;梁亚萍;田雍容;李炳东;赵静;曹征;李强;杨怡欣;刘旺;郭瑞霞 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张丽娜 |
| 地址： | 710100 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种栅阵列器件平面度检测工装及检测方法，属于栅阵列器件平面度检测技术领域。本发明的方法通过对器件焊接端子的高度进行梳理，确定基准测量尺寸，根据对平面度的测量要求确定测量尺寸，通过工装采用叠加的方法进行测量，该测量方法：操作简单易行、测量有效到位、可避免器件引腿受损，并解决了由于器件焊接端子平面度差导致的焊接不良问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 器件 平面 检测 工装 方法 | ||
【主权项】：
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