[发明专利]一种基于光学相干层析成像系统的密封性检测方法和终端有效

专利信息
申请号: 201911323981.2 申请日: 2019-12-20
公开(公告)号: CN110967154B 公开(公告)日: 2021-10-12
发明(设计)人: 苏胜飞 申请(专利权)人: 深圳市太赫兹科技创新研究院;深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司
主分类号: G01M3/38 分类号: G01M3/38
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 叶思
地址: 518102 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请适用于物品密封性检测技术领域,提供了一种基于光学相干层析成像系统的密封性检测方法和终端,其中,所述密封性检测方法包括:获取利用所述光学相干层析成像系统采集的待测物品外表面的干涉信号;对所述干涉信号进行处理,得到所述待测物品外表面的结构图像,并对所述结构图像进行密封性分析,判断所述待测物品是否为密封性良好的物品,实现了待测物品的密封性检测。
搜索关键词: 一种 基于 光学 相干 层析 成像 系统 密封性 检测 方法 终端
【主权项】:
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