[发明专利]评价方法、推定方法、评价装置及综合评价装置在审
| 申请号： | 201911248860.6 | 申请日： | 2019-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN111413555A | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 藤田美和子;玉手道雄;浅野达见子;铃木佑平;荒木龙 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 包跃华;金玉兰 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种评价方法、推定方法、评价装置及综合评价装置，能够简单地评价半导体器件的电磁噪声，并推定搭载了半导体器件的装置的电磁噪声。评价方法包括使半导体器件中的第一器件和第二器件中的一方进行开关动作的步骤，半导体器件包括串联连接的第一器件和第二器件、以及与第一器件和第二器件的串联电路并联连接且彼此串联连接的第三器件和第四器件；测定在开关动作过程中在第三器件和第四器件之间产生的电压变化的步骤；以及基于电压变化，输出半导体器件的电磁噪声的评价指标的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 评价 方法 推定 装置 综合 | ||
【主权项】：
暂无信息
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