[发明专利]用于逻辑电路的全速测试的系统芯片及其操作方法在审
| 申请号： | 201911232389.1 | 申请日： | 2019-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN111426946A | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 申范锡;朴真秀 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 赵南;张青 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种系统芯片包括：第一核中的第一扫描寄存器，该第一扫描寄存器最靠近第一核的输入端口；第一扫描寄存器的反馈路径上的反相电路；第一核中的第二扫描寄存器；以及逻辑电路，其位于第一扫描寄存器与第二扫描寄存器之间的数据路径上。在用于逻辑电路的全速测试的测试模式中，反相电路通过反转从第一扫描寄存器输出的扫描数据产生测试数据，第一扫描寄存器响应于时钟信号的第一脉冲存储测试数据，逻辑电路基于从第一扫描寄存器输出的测试数据产生结果数据，并且第二扫描寄存器响应于时钟信号的第二脉冲存储结果数据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 逻辑电路 全速 测试 系统 芯片 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911232389.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种车轮用安全气囊装置
- 下一篇：具收音场景切换功能的助听系统
