[发明专利]X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置在审
| 申请号： | 201911199992.4 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111340751A | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 大竹丰;长井超慧;后藤智德;佐佐木诚治;今正人 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人东京大学;株式会社三丰 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置。该X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置从通过X射线CT获取到的体数据中提取CT值固定的体素来生成等值面网格(M)，在网格(M)的各顶点(p)处计算顶点(p)的CT值的梯度向量(g)，在计算出的梯度向量(g)的正负方向上生成多个采样点(S)，计算所生成的各采样点(S)处的CT值的梯度范数(N)，使顶点移动至计算出的梯度范数为最大值(Nm)的采样点(Sm)，由此修正等值面的顶点(p)。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 ct 中的 体积 表面 提取 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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