[发明专利]一种基于转台控制的自对准自动测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 201911053385.7 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN110793545B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 谭萍;李永满;彭时雨;刘兆梅 申请(专利权)人: 湖南航天机电设备与特种材料研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G06F8/30;G06F8/71
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 郭立中;李美丽
地址: 410205 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种基于转台控制的自对准自动测试系统及方法,自对准自动测试系统包括上位机,所述上位机包括集成了产品上位机采集软件和转台控制软件的自动测试软件,所述自动测试软件包括自对准测试界面;产品与转台均与上位机相连;自对准自动测试方法包括以下步骤:将产品与转台均与上位机相连,启动上位机的自动测试软件;进入自对准测试界面;自动测试软件根据设定的测试流程,完成对产品的测试;测试完成,自动计算、分析和保存测试结果。本发明通过上位机对转台进行稳定可靠的自动控制,同时高度集成数据采集和转台控制功能,有效地解决多位置自对准测试过程中需要较多人工干预的问题,达到自动测试的效果。
搜索关键词: 一种 基于 转台 控制 对准 自动 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种基于转台控制的自对准自动测试系统,其特征在于,包括上位机,所述上位机包括集成了产品上位机采集软件和转台控制软件的自动测试软件,所述自动测试软件包括自对准测试界面;产品与转台均与上位机相连。/n
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