[发明专利]整合的混合NEMS质谱测定法有效
| 申请号： | 201911002458.X | 申请日： | 2016-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN110718442B | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·L·洛克斯;A·A·马卡罗夫 | 申请（专利权）人： | 加州理工学院;赛默飞世尔科技（布莱梅）有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/06 | 分类号： | H01J49/06;H01J49/26;H01J49/42;H01J49/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张瑞;杨明钊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及整合的混合NEMS质谱测定法。混合质谱仪包括：用于从样本产生离子的离子源；包括纳机电质谱(NEMS‑MS)系统的第一质谱系统；第二质谱系统，其包括适于根据带电粒子的质荷比来分离带电粒子的至少一个质量分析器；以及使第一质谱系统和第二质谱系统耦合的整合区，该整合区包括用于可控地将离子按规定路线发送到第一质谱系统和第二质谱系统中的选定的一个或两个以由此进行分析的至少一个定向设备。第二系统可以是轨道静电阱系统。离子束可以由离子光学器件电气地引导到一个或另一个系统。具有谐振器的芯片可以通过冷却使用。用途包括对在生物系统中发现的大质量复合物的分析、天然单分子分析以及大小和形状分析。 | ||
| 搜索关键词： | 整合 混合 nems 测定法 | ||
【主权项】：
1.一种质谱仪装置，包括：/n至少一个混合质谱仪，所述至少一个混合质谱仪包括：/n离子源，所述离子源用于从样本产生离子，/n第一质谱系统，/n第二质谱系统，所述第二质谱系统包括适于根据带电粒子的质荷比来分离所述带电粒子的至少一个质量分析器，/n整合区，所述整合区将所述第一质谱系统和所述第二质谱系统耦合，所述整合区包括至少一个定向设备，所述至少一个定向设备用于可控地将所述离子按规定路线发送到所述第一质谱系统和所述第二质谱系统中的选定的一个或两个以由其进行分析；其特征在于：/n所述第一质谱系统包括纳机电质谱NEMS-MS系统，并且/n所述至少一个混合质谱仪包括整合所述第二质谱系统和所述NEMS-MS系统的离子光学器件，其中，整合所述第二质谱系统和所述NEMS-MS系统的所述离子光学器件包括布置在所述整合区的至少一个定向设备和所述NEMS-MS系统之间的z-透镜的至少一个堆叠。/n
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