专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]整合的混合NEMS质谱测定法-CN201911002458.X有效
  • 迈克尔·L·洛克斯;A·A·马卡罗夫 - 加州理工学院;赛默飞世尔科技(布莱梅)有限公司
  • 2016-01-22 - 2022-08-16 - H01J49/06
  • 本申请涉及整合的混合NEMS质谱测定法。混合质谱仪包括:用于从样本产生离子的离子源;包括纳机电质谱(NEMS‑MS)系统的第一质谱系统;第二质谱系统,其包括适于根据带电粒子的质荷比来分离带电粒子的至少一个质量分析器;以及使第一质谱系统和第二质谱系统耦合的整合区,该整合区包括用于可控地将离子按规定路线发送到第一质谱系统和第二质谱系统中的选定的一个或两个以由此进行分析的至少一个定向设备。第二系统可以是轨道静电阱系统。离子束可以由离子光学器件电气地引导到一个或另一个系统。具有谐振器的芯片可以通过冷却使用。用途包括对在生物系统中发现的大质量复合物的分析、天然单分子分析以及大小和形状分析。
  • 整合混合nems测定法
  • [发明专利]有机样品的元素分析-CN201610594348.7有效
  • A·A·马卡罗夫;J·施韦特斯 - 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
  • 2016-07-26 - 2019-11-05 - G01N27/64
  • 一种使有机样品中的一种或多种分析物元素成像的方法,包含:将样品作为层提供在基底上;使样品在基底上反应以产生离开样品的一种或多种挥发性产物,同时一种或多种元素保留在样品中,由此按重量计大部分样品层通过该反应从基底中去除并且剩余样品层富含一种或多种不受该反应空间干扰的元素;并且随后使用成像元素分析仪检测在浓缩样品层中的一种或多种元素。还提供了一种用于使有机样品中的一种或多种元素成像的装置和一种成像元素分析仪,所述成像元素分析仪包含用于使初级离子聚焦于样品上的离子枪、分别用于接收和分析来自样品的次级离子的RF离子导向器和TOF分析仪。
  • 有机样品元素分析
  • [发明专利]目标质量分析-CN201480049941.2有效
  • A·A·马卡罗夫 - 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
  • 2014-09-10 - 2018-01-23 - H01J49/00
  • 本发明涉及一种质谱仪,其包括离子源,其产生具有质荷比比率的初始范围的离子;辅助离子检测器,其位于所述离子源的下游,接收从由所述离子源产生的所述离子得出的多个第一离子样本且确定所述多个第一离子样本中的每一者的相应离子电流测量值;质量分析仪,其位于所述离子源的下游,接收从由所述离子源产生的所述离子得出的第二离子样本且通过所述第二离子样本的质量分析而产生质谱数据;以及输出级,其基于由所述辅助离子检测器确定的所述离子电流测量值而建立与由所述离子源产生的所述离子中的至少一些相关联的丰度测量值。
  • 目标质量分析
  • [发明专利]整合的混合NEMS质谱测定法-CN201680016374.X在审
  • 迈克尔·L·洛克斯;A·A·马卡罗夫 - 加州理工学院;赛默飞世尔科技(布莱梅)有限公司
  • 2016-01-22 - 2017-11-28 - H01J49/06
  • 混合质谱仪包括用于从样本产生离子的离子源;包括纳机电质谱(NEMS‑MS)系统的第一质谱系统;第二质谱系统,其包括适于根据带电粒子的质荷比来分离带电粒子的至少一个质量分析器;以及使第一质谱系统和第二质谱系统耦合的整合区,该整合区包括用于可控地将离子按规定路线发送到第一质谱系统和第二质谱系统中的选定的一个或两个以由此进行分析的至少一个定向设备。第二系统可以是轨道静电阱系统。离子束可以由离子光学器件电气地引导到一个或另一个系统。具有谐振器的芯片可以通过冷却使用。用途包括对在生物系统中发现的大质量复合物的分析、天然单分子分析以及大小和形状分析。
  • 整合混合nems测定法
  • [发明专利]离子检测-CN201180059886.1有效
  • A·A·马卡罗夫 - 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
  • 2011-12-14 - 2017-02-15 - H01J49/42
  • 提供了质量分析器以及用于质量分析器的离子检测方法。静电场生成器提供使离子包沿一方向振荡的静电场。在显著短于离子振荡周期的一段持续时间上或者通过使用宽度显著小于离子谐波运动跨距的脉冲检测电极来检测脉冲瞬态信号。也检测谐波瞬态信号。随后基于脉冲瞬态信号和谐波瞬态信号来标识相对于质荷比的离子强度。
  • 离子检测
  • [发明专利]离子捕集的方法和设备-CN200680010091.0有效
  • A·A·马卡罗夫;E·丹尼索夫;G·荣;R·马雷克;O·兰格 - 萨默费尼根有限公司
  • 2006-03-29 - 2008-03-26 - H01J49/00
  • 本发明涉及捕集离子的方法以及离子捕集装置。具体地,本发明应用于质谱仪中离子质量分析之前的离子阱中的离子气体辅助捕集。本发明提供了一种在离子捕集装置的目标离子阱中捕集离子的方法,该离子捕集装置包括安排的一系列的体使得离子可从一个体穿过到下一个体,这些体包括目标离子阱,由此使离子能够反复地穿过体使得它们还进入所述目标离子阱并从所述目标离子阱出来而不被捕集。电位可用于将离子从离子捕集装置的各端反射。选择地,势阱和/或气体辅助冷却可用于使离子稳定在目标离子阱中。
  • 离子方法设备

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