[发明专利]铁磁共振测量方法在审
| 申请号： | 201910984442.7 | 申请日： | 2019-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN111060854A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 圣地牙哥·山诺·古山;路克·汤马斯;真杰诺;李松 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/16 | 分类号： | G01R33/16 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 韩旭;黄艳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种铁磁共振测量方法，包括：磁性薄膜或堆叠层被图案化至具有延长轴长度的细长结构物。于有关于延长轴(平行于面内且垂直于长轴)的两个不同方向或垂直于平面的一方向施加磁场(H)。在其他实施例中，施加磁场(H)以在x轴方向沿着长轴平行于细长结构的第一组，及在y轴方向沿着长轴垂直于细长结构的第二组。从测量共振频率差(Δfr)(用于固定磁场并扫描频率的范围)中或测量共振场差(ΔHr)(用于固定微波频率并扫描磁场振幅的范围)中，使用去磁因子的方程式决定饱和磁化量(Ms)。 | ||
| 搜索关键词： | 磁共振 测量方法 | ||
【主权项】：
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