[发明专利]半结构化数据的质量检测方法、装置、存储介质及设备有效

专利信息
申请号: 201910950606.4 申请日: 2019-10-08
公开(公告)号: CN110704686B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 胡立杰;张志远;万月亮 申请(专利权)人: 北京锐安科技有限公司
主分类号: G06F16/83 分类号: G06F16/83
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 100044 北京市海淀区西小口*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例公开了一种半结构化数据的质量检测方法、装置、存储介质及设备。该方法包括:通过自描述文件确定半结构化数据中目标字段的业务场景标记;根据目标字段的业务场景标记确定半结构化数据的校验模板;其中,所述校验模板还包括针对目标字段的业务场景标记的检测函数;根据所述检测函数,对目标字段以及与目标字段相关联的关联字段进行全局检测,并生成质量检测结果。通过执行本申请所提供的技术方案,可以实现对半结构化数据的各个字段内容进行更加准确的检测的效果。
搜索关键词: 结构 数据 质量 检测 方法 装置 存储 介质 设备
【主权项】:
1.一种半结构化数据的质量检测方法,其特征在于,包括:/n通过自描述文件确定半结构化数据中目标字段的业务场景标记;/n根据目标字段的业务场景标记确定半结构化数据的校验模板;其中,所述校验模板还包括针对目标字段的业务场景标记的检测函数;/n根据所述检测函数,对目标字段以及与目标字段相关联的关联字段进行全局检测,并生成质量检测结果。/n
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