[发明专利]一种消除光栅光谱仪高级衍射影响的方法

摘要

本发明涉及一种消除光栅光谱仪高级衍射影响的方法，包括标定过程和实测过程。标定过程包括：根据光栅光谱仪的响应波长范围，确定成像传感器上衍射级次m的范围；从m最大的衍射级次向最小的衍射级次依次标定，重复下列步骤：选择窄带光源照射，使其波长范围光的m级衍射落在成像传感器上，且与一级衍射的成像位置不重叠；分别读取成像传感器的一级衍射光区域和高级衍射光区域，获得每一个波长λ的一级和高级衍射光光强，计算校正系数并存储。实测过程包括：使用光栅光谱仪获得待测物体的原始光谱数据进行校正处理，得到其真实光谱数据。本发明使用简单方法消除光栅光谱仪的高级衍射光影响，不增加系统复杂度，方便易用、成本低廉、数据质量高。

主权项

1.一种消除光栅光谱仪高级衍射影响的方法，其特征在于：包括标定过程和实测过程，其中标定过程包括：/n步骤A1：根据光栅光谱仪的响应波长范围，确定光栅光谱仪的成像传感器上接收到的衍射级次m的范围；/n步骤A2：从m最大的衍射级次m_max开始向最小的衍射级次m_min依次进行标定，重复下列步骤：/n(1)选择窄带光源照射，使得其波长范围光的m级衍射落在成像传感器上，且与一级衍射的成像位置不发生重叠；/n(2)读取成像传感器的一级衍射光区域，获得每一个波长λ的一级衍射光的光强I₁(λ)＝I_raw(λ)，其中I_raw为成像传感器上读取的原始数据；/n(3)读取成像传感器的高级衍射区域，获取每一个波长λ的m级衍射光的光强其中，n为该区域内存在的所有比m更高的衍射级次，且mλ/n在窄带光源的波长范围内,R_n(mλ/n)为该区域存在的所有比m更高的衍射级次的校正系数；/n(4)根据m级衍射的光强与其对应的一级衍射的光强数据，计算窄带光源波长范围内的校正系数R_m(λ)；/n(5)将R_m(λ)的值储存于计算机中作为校正系数表；/n实测过程包括：/n步骤B1：使用光栅光谱仪测量待测物体的光谱，获得待测物体原始数据；/n步骤B2：调用校正系数表，对待测物体原始数据进行校正处理，得到物体真实的光谱强度。/n