[发明专利]显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统在审
| 申请号： | 201910902949.3 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN110702685A | 公开（公告）日： | 2020-01-17 |
| 发明（设计）人： | 王珂 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01;G01M11/02 |
| 代理公司： | 44300 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) | 代理人： | 汪阮磊 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统，该缺陷检测方法应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。 | ||
| 搜索关键词： | 拍照 拍照装置 缺陷检测系统 缺陷检测 显示面板 目标焦距 拍照效率 显示面板表面 调整焦距 焦距调整 位置确定 自动聚焦 焦距 检测 移动 重合 平动 申请 投影 平行 聚焦 | ||
【主权项】：
1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：/n获取所述待拍照点的位置；/n根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；/n将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；/n将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。/n
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