[发明专利]基于大规模芯片测试结果的快速检索方法有效
申请号: | 201910879802.7 | 申请日: | 2019-09-18 |
公开(公告)号: | CN112527757B | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
发明(设计)人: | 谭坚;蒋昊辰;王丽一;吴臻;陈磊;肖旵敏 | 申请(专利权)人: | 无锡江南计算技术研究所 |
主分类号: | G06F16/18 | 分类号: | G06F16/18;G06F16/14 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 王健 |
地址: | 214083 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于大规模芯片测试结果的快速检索方法,包括以下步骤:对目录进行检查,将目录中的日志文件按照文件名进行升序排序,检查是否存在校验文件.checksum,如果是,执行下一步,否则对目录下的所有文件进行顺序入库,并将数据列表写入.checksum文件;将之前从该目录中获取的数据列表写入.checksum_new文件;读入该目录中的校验文件.checksum;对该目录中的校验文件.checksum和.checksum_new进行MD5值比对,判断这两个文件MD5值是否相同,如果是,结束操作;该方法通过对目录中的文件分层级并检索,达到快速定位更新目录或者更新文件的目的,提升检测效率。 | ||
搜索关键词: | 基于 大规模 芯片 测试 结果 快速 检索 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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