[发明专利]一种基于X射线粉末衍射技术的β-HMX晶型纯度检测方法在审
| 申请号： | 201910864181.5 | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN110579500A | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 王明;潘清;陈智群;李晓宇;栾洁玉 | 申请（专利权）人： | 西安近代化学研究所 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01N1/28 |
| 代理公司： | 11011 中国兵器工业集团公司专利中心 | 代理人： | 祁恒 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提出一种基于X射线粉末衍射技术的β‑HMX晶型纯度检测方法，采用X射线粉末衍射技术结合化学计量学偏最小二乘法建立β‑HMX晶型纯度定量校正模型及相应的晶型纯度测试方法。本发明基于多元数据分析方法，可在交叉、重叠的光谱中提取有效信息，适用于无独立特征谱峰的晶型定量分析；能在10min～15min时间内准确测定β‑HMX晶型纯度，且样品用量小于50mg，检测过程无需复杂制样，安全、快捷；能够解决合成样品小试阶段、产品事故究因分析等环节中微量样品晶型纯度难以检测的问题，为β‑HMX产品质量控制、生产工艺和长储过程的晶型稳定性研究提供可靠、高效的检测依据。 | ||
| 搜索关键词： | 晶型纯度 检测 产品质量控制 定量校正模型 多元数据分析 偏最小二乘法 化学计量学 晶型稳定性 定量分析 产品事故 独立特征 合成样品 技术结合 微量样品 样品用量 有效信息 光谱 晶型 谱峰 制样 生产工艺 测试 环节 分析 安全 研究 | ||
【主权项】：
1.一种基于X射线粉末衍射技术结合化学计量学偏最小二乘法的β-HMX晶型纯度的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：/nS1、校正集样品的配制：配制一系列不同组分含量的β-HMX、α-HMX混合晶型样品作为校正集样品，β-HMX晶型纯度按下式计算：/n
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