[发明专利]一种高效的EEPROM芯片自测试方法在审
| 申请号： | 201910863161.6 | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN110517721A | 公开（公告）日： | 2019-11-29 |
| 发明（设计）人： | 孙晓霞;张建伟 | 申请（专利权）人： | 上海明矽微电子有限公司;张建伟 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种高效的EEPROM芯片自测试方法。上位机只需发送一次命令请求，数字逻辑电路按照需求，自主发送写和读请求至EEPROM，上位机等待一定时间后，如果收到正确的返回数据，则认为此EEPROM测试完成。该发明解决生产测试耗时长、命令复杂等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 上位机 发送 数字逻辑电路 返回数据 生产测试 次命令 读请求 自测试 耗时 | ||
【主权项】：
1.一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,上位机只需发送一次命令请求，数字逻辑电路按照需求，自主发送写和读请求至EEPROM，上位机等待一定时间后，如果收到正确的返回数据，则认为此EEPROM测试完成。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海明矽微电子有限公司;张建伟，未经上海明矽微电子有限公司;张建伟许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910863161.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于STM32的低成本高速存储测试装置
- 下一篇：一种新型环保隔音罩
