[发明专利]一种高效的EEPROM芯片自测试方法

权利要求书

1.一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,上位机只需发送一次命令请求，数字逻辑电路按照需求，自主发送写和读请求至EEPROM，上位机等待一定时间后，如果收到正确的返回数据，则认为此EEPROM测试完成。

2.如权利要求1所述的一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,上位机仅发送一次简单的命令指示。数字逻辑电路解析此命令后，自动发送写和读EEPROM请求。代替了传统繁琐的读写时序。

3.如权利要求1所述的一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,数字电路与EEPROM的接口是并行数据处理。

4.如权利要求1所述的一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,EEPROM接口采用的读写时钟一般会大于IIC串行时钟。

5.如权利要求1所述的一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,上位机发送命令后，数字逻辑电路无须返回从EEPROM读取的数据。只需返回4个标志位给上位机，告诉当前检测已完成。

6.如权利要求1所述的一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,数字电路知道对应EEPROM的存储量，可以对芯片做完整测试。

7.如权利要求1所述的一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,上位机命令开发流程很大程度上被简化，减少出错概率。

8.如权利要求1所述的一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,在上位机等待芯片返回标志位的进程中，可以同时对其他芯片操作。

9.如权利要求1所述的一种高效的EEPROM芯片自测试方法,其特征在于,EEPROM自测试方式带来的各种开销的缩减是显而易见的。虽然此方案会稍微增加一些数字逻辑资源，但是与宝贵的时间成本权衡下来，此种方案更能凸显它的实用价值。