[发明专利]使用历史检验数据进行缺陷预测

摘要

本公开涉及使用历史检验数据进行缺陷预测。提供了使用历史检验数据的缺陷预测。在各种实施例中，接收工厂的历史检验数据。检验数据包括工厂中生产的一个或多个产品中的缺陷的指示。从检验数据中提取多个特征。将所述多个特征提供给缺陷预测模型。缺陷预测模型包括经训练的分类器或协同过滤器。从缺陷预测模型获得可能在所述一个或多个产品中出现的多个缺陷的指示。