[发明专利]一种基于零化去噪技术的互质阵欠定测向方法有效

专利信息
申请号: 201910851814.9 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN110749856B 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: 潘玉剑;姚敏;罗国清;张晓红;代喜旺 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G01S3/14 分类号: G01S3/14;G06F17/16
代理公司: 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 代理人: 杨舟涛
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种基于零化去噪技术的互质阵欠定测向方法,具体包括以下步骤:互质阵布阵并接收阵列数据;数据预处理;构造均匀虚拟阵列数据向量及模型噪声协方差矩阵;迭代求解零化系数;方程求根并测向。该方法相比现有技术的优势在于:首先,在欠定求解过程中引入了对阵列噪声方差的估计,且用零化去噪的技术实现了对互质阵虚拟阵列中的孔洞进行了插值,充分利用了所有的阵元信息以及阵列自由度;其次,本发明对由有限快拍数引起的模型噪声进行了建模,可提高测向精度;最后,本发明提出的方法属于无网格算法,不存在网格效应,也无需进行空域网格扫描。
搜索关键词: 一种 基于 零化去噪 技术 互质阵欠定 测向 方法
【主权项】:
1.一种基于零化去噪技术的互质阵欠定测向方法,其特征在于,包括以下步骤:/n(S1):设置互质正整数M和N,构造两个向量[0,N,2N,...,(M-1)N],[M,2M,...,(N-1)M],并将其合并得到向量
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