[发明专利]低损耗材料微波介电测试中TE011

摘要

本发明涉及低损耗材料微波介电测试中识别TE011谐振模式的方法。该方法引入了具有已知介电常数的基准试样。根据谐振器中只放置基准试样及同时放置基准试样和待测试样时TE011模式谐振频率的变化，即可通过数值方法计算出待测试样的介电常数，并由此进一步计算出只放置待测试样、进行微波介电性能测试时TE011模式的谐振频率。此谐振频率的计算值与实际测试值相差在1％以内，因此能准确地将TE011模式从大量干扰模式中识别出来。与之前TE011谐振模式的识别方法相比，本发明提供的方法具有准确、简单、快速的特点。

主权项

1.一种在低损耗材料微波介电测试中识别TE₀₁₁谐振模式的方法，其特征在于包括以下步骤：(1)将具有已知介电常数ε_r,R的基准试样R放置在谐振器内，根据基准试样的尺寸及介电常数ε_r,R，用数值方法计算TE₀₁₁模式的谐振频率f_0,A；用网络分析仪在f_0,A±1％的范围内找到TE₀₁₁模式的谐振峰，记录谐振频率f_0,1；(2)将待测试样S放置在基准试样R上，放置过程中观测TE₀₁₁模式谐振峰的移动，并记录放置完毕后的谐振频率f_0,2；根据基准试样的尺寸、介电常数ε_r,R、待测试样的尺寸及谐振频率f_0,2，用数值方法计算得到待测试样S的介电常数ε_r,S；(3)将待测试样S和基准试样R移出谐振器，将待测试样S单独放置在谐振器中；根据待测试样的尺寸及介电常数ε_r,S，用数值方法计算出只放置待测试样S时TE₀₁₁模式的谐振频率f_0,B；用网络分析仪在f_0,B±1％的范围内找到TE₀₁₁模式的谐振峰，记录谐振频率f_0,3，完成模式识别。