[发明专利]辐射杂散测试方法及装置、测试系统有效
| 申请号： | 201910824348.5 | 申请日： | 2019-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN110601773B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 周意保 | 申请（专利权）人： | OPPO（重庆）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/20;H04B17/11 |
| 代理公司： | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人： | 刘抗美 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本公开涉及通信技术领域，具体涉及一种辐射杂散测试方法、一种辐射杂散测试装置、一种辐射杂散测试系统、一种计算机可读介质以及一种电子设备。所述方法包括：控制基准信号源在测试环境中发射校准参考信号，以获取空间补偿数据；控制测试机在所述测试环境中发射第一测试状态对应的第一射频信号，以获取第一接收信号；结合所述第一接收信号和所述空间补偿数据获取所述测试机在所述第一测试状态下的第一测试信号；将所述第一测试信号与预设阈值进行对比以获取所述第一状态对应的第一测试结果。本公开的方案能够实现基于近场耦合的原理对终端设备快速的进行辐射杂散测试，降低测试耗时，进而可以覆盖更多的测试机，实现批量测试。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种辐射杂散测试方法，其特征在于，包括：/n控制基准信号源在测试环境中发射校准参考信号，以获取空间补偿数据；/n控制测试机在所述测试环境中发射第一测试状态对应的第一射频信号，以获取第一接收信号；/n结合所述第一接收信号和所述空间补偿数据获取所述测试机在所述第一测试状态下的第一测试信号；/n将所述第一测试信号与预设阈值进行对比以获取所述第一状态对应的第一测试结果。/n
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