[发明专利]辐射杂散测试方法及装置、测试系统

说明书

本公开涉及通信技术领域，具体涉及一种辐射杂散测试方法、一种辐射杂散测试装置、一种辐射杂散测试系统、一种计算机可读介质以及一种电子设备。所述方法包括：控制基准信号源在测试环境中发射校准参考信号，以获取空间补偿数据；控制测试机在所述测试环境中发射第一测试状态对应的第一射频信号，以获取第一接收信号；结合所述第一接收信号和所述空间补偿数据获取所述测试机在所述第一测试状态下的第一测试信号；将所述第一测试信号与预设阈值进行对比以获取所述第一状态对应的第一测试结果。本公开的方案能够实现基于近场耦合的原理对终端设备快速的进行辐射杂散测试，降低测试耗时，进而可以覆盖更多的测试机，实现批量测试。

技术领域

本公开涉及通信技术领域，具体涉及一种辐射杂散测试方法、一种辐射杂散测试装置、一种辐射杂散测试系统、一种计算机可读介质以及一种电子设备。

背景技术

辐射杂散(Radiated Spurious Emission，RES)测试是IT产品、AV产品、家电以及无线产品等电子设备在认证时的一个重要的测试项目。

现有技术在进行辐射杂散测试时主要包括：传统远场测试(DFF，Direct FarField)、紧缩远场测试(IFF，Indirect Far Field)以及辐射近场测试方法。但上述的测试方法存在一定的缺陷和不足，例如，传统远场测试方法和辐射近场测试方案均具有测试耗时长，测试需要搭建较大的测试空间，成本较高且只能用于抽样检测，测试无法覆盖到每一台机器的缺陷。而紧缩远场测试的方法则具有需要多点测试，单次测试耗时长相对较长，不能够实现产线批量测试的缺陷。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种辐射杂散测试方法、一种辐射杂散测试装置、一种辐射杂散测试系统、一种计算机可读介质以及一种电子设备，可以快速的对终端设备进行辐射杂散测试。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的第一方面，提供一种辐射杂散测试方法，包括：

控制基准信号源在测试环境中发射校准参考信号，以获取空间补偿数据；

控制测试机在所述测试环境中发射第一测试状态对应的第一射频信号，以获取第一接收信号；

结合所述第一接收信号和所述空间补偿数据获取所述测试机在所述第一测试状态下的第一测试信号；

将所述第一测试信号与预设阈值进行对比以获取所述第一状态对应的第一测试结果。

根据本公开的第二方面，提供一种辐射杂散测试装置，包括：

补偿信息获取模块，控制基准信号源在测试环境中发射校准参考信号，以获取空间补偿数据；

第一接收信号获取模块，用于控制测试机在所述测试环境中发射第一测试状态对应的第一射频信号，以获取第一接收信号；

第一测试信号获取模块，用于结合所述第一接收信号和所述空间补偿数据获取所述测试机在所述第一测试状态下的第一测试信号；

第一测试结果生成模块，用于将所述第一测试信号与预设阈值进行对比以获取所述第一状态对应的第一测试结果。

根据本公开的第三方面，提供一种辐射杂散测试系统，包括：

测试环境，包括：屏蔽腔体，所述屏蔽腔体内设置有多个耦合板，以及用于放置测试机的载板；