[发明专利]辐射杂散测试方法及装置、测试系统

权利要求书

1.一种辐射杂散测试方法，其特征在于，包括：

控制基准信号源在测试环境中发射校准状态对应的校准参考信号，以获取校准接收信号；根据所述校准参考信号的强度与所述校准接收信号强度之间的差值确定空间补偿数据；以及，在执行校准的过程中根据空间补偿数据调整屏蔽腔体中各耦合板的位置和角度；

控制测试机在所述测试环境中发射第一测试状态对应的第一射频信号，以获取第一接收信号；

结合所述第一接收信号和所述空间补偿数据获取所述测试机在所述第一测试状态下的第一测试信号，以通过所述空间补偿数据对所述第一接收信号进行功率补偿；

将所述第一测试信号与预设阈值进行对比以获取所述第一测试状态对应的第一测试结果；

其中，所述测试环境包括屏蔽腔体和多个耦合板，根据测试机的尺寸配置各耦合板与测试机之间的距离，进而调整耦合板在屏蔽腔体内的位置，以及配置一个耦合板对应一个敏感点，或者相距较近的多个敏感点配置一个耦合板；所述屏蔽腔体为边长为0.4m-0.7m的立方体或长方体结构。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取第一接收信号，包括：

利用所述测试环境中的多个耦合板接收所述第一射频信号；

对所述第一射频信号进行滤波处理以获取初始杂散信号；

对所述初始杂散信号进行放大处理，以获取放大后的杂散信号；

控制程控射频开关以使所述放大后的杂散信号通过目标信道发送至频谱仪，以获取所述杂散信号对应的信号强度和信号频率数据。

3. 根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述测试环境包括屏蔽腔体；所述屏蔽腔体内设置有耦合板，以及用于放置所述测试机的载板；所述方法还包括：

根据所述耦合板的数量对应配置滤波器的数量；以及

根据所述滤波器的数量对应配置放大器的数量。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

控制测试机在所述测试环境中发射第二测试状态对应的第二射频信号，以获取第二接收信号；

结合所述第二接收信号和所述空间补偿数据获取所述测试机在所述第二测试状态下的第二测试信号；

将所述第二测试信号与预设阈值进行对比以获取所述第二测试状态对应的第二测试结果。

5.一种辐射杂散测试装置，其特征在于，包括：

补偿信息获取模块，用于控制基准信号源在测试环境中发射校准状态对应的校准参考信号，以获取校准接收信号；根据所述校准参考信号的强度与所述校准接收信号强度之间的差值确定空间补偿数据；以及，在执行校准过程中根据所述空间补偿数据调整屏蔽腔体中各耦合板的位置和角度；

第一接收信号获取模块，用于控制测试机在所述测试环境中发射第一测试状态对应的第一射频信号，以获取第一接收信号；

第一测试信号获取模块，用于结合所述第一接收信号和所述空间补偿数据获取所述测试机在所述第一测试状态下的第一测试信号，以通过所述空间补偿数据对所述第一接收信号进行功率补偿；

第一测试结果生成模块，用于将所述第一测试信号与预设阈值进行对比以获取所述第一测试状态对应的第一测试结果；

其中，所述测试环境包括屏蔽腔体和多个耦合板，根据测试机的尺寸配置各耦合板与测试机之间的距离，进而调整耦合板在屏蔽腔体内的位置，以及配置一个耦合板对应一个敏感点，或者相距较近的多个敏感点配置一个耦合板；所述屏蔽腔体为边长为0.4m-0.7m的立方体或长方体结构。