[发明专利]测试结构和测试方法有效
| 申请号： | 201910819082.5 | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN112447250B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 何世坤;王明;竹敏 | 申请（专利权）人： | 中电海康集团有限公司;浙江驰拓科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/54 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 董文倩 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种测试结构和测试方法。该测试结构包括：至少一个自旋轨道矩提供线；多个阻变器件，各阻变器件位于自旋轨道矩提供线的表面上，阻变器件包括至少一个磁性层；第一测试电极，与至少一个自旋轨道矩提供线的一端电连接；第二测试电极，与至少一个自旋轨道矩提供线的一端电连接；第三测试电极，与阻变器件的远离自旋轨道矩提供线的一端电连接。利用本申请的测试结构进行测试，可以一次进行多个器件的测量，获取统计信息进而可以有效节省测试时间，极大提升测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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