[发明专利]一种动态NandFlash危险块筛选的方法在审
| 申请号： | 201910794154.5 | 申请日： | 2019-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN110517719A | 公开（公告）日： | 2019-11-29 |
| 发明（设计）人： | 张明;魏智汎;王展南;曾瑞华 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/44;G06F3/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种动态NandFlash危险块筛选的方法，将在默认电压下出现ECC Fail的块中的页使用所有的可读取电压，并看是否有电压能将页的Error Bit降到阈值以下，若使用所有可读取电压读出的Error Bit都大于阈值T，则将这个块标记为危险块，若有一个读取电压读出的Error Bit不大于阈值T，则认为这个块是正常的，该发明可以筛选出在使用过程中导致NandFlash内特性不佳的危险块，用户把经过筛选的危险块的数据读出，放到正常块中，并把这个危险块避过不再使用，避免因为下次使用了危险块导致一系列不稳定的问题出现，提升了产品的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 读出 可读取 筛选 读取电压 | ||
【主权项】：
1.一种动态NandFlash危险块筛选的方法，其特征在于：包括以下步骤：/n步骤一：在NandFlash使用过程中使用默认电压出现ECC Fail；/n步骤二：使用厂商提供的读取电压表，并看出错的页在每个读取电压表的条件下读取时的Error Bit，如果在每个读取电压表的条件下Error Bit都大于阈值T，那么就把这个块标为危险块；/n步骤三：只要块中有一个页经过所有的读取电压表的Error Bit都大于阈值T，就说明该块为危险块，进行标注，并进行下一个块的筛选；/n步骤四：若块中所有页不需要经过所有的读取电压表就可以把Error Bit降低到阈值T以下则认为是正常的块。/n
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