[发明专利]一种材料介电张量测量方法有效
| 申请号： | 201910792395.6 | 申请日： | 2019-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN110596011B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 谷洪刚;宋宝坤;刘世元;郭正峰;方明胜;江浩;陈修国 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G06F17/10 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智;张彩锦 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明属于材料基础物理特性研究领域，并具体公开了一种材料介电张量测量方法，其首先由预设待测材料介电张量初始值ε(E)确定偏转换矩阵T |
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| 搜索关键词： | 一种 材料 张量 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种材料介电张量测量方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1由预设待测材料介电张量初始值ε(E)确定偏转换矩阵T
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