[发明专利]基于STM32的低成本高速存储测试装置有效
| 申请号： | 201910725596.4 | 申请日： | 2019-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN110517720B | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 韦旭;狄长安 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 马鲁晋 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于STM32的低成本高速存储测试装置，包括STM32主控模块，用于控制采集调理电路模块、ADC采集模块、多片选NAND FLASH存储模块、串口通信模块工作；采集调理电路模块，用于实现阻抗匹配；ADC采集模块，用于在STM32主控模块的控制下，高速采集经采集调理电路模块处理后的信号；多片选NAND FLASH存储模块，用于在ADC采集模块采集完成后，在STM32主控模块的控制下，持久性存储测试数据；串口通信模块，用于在STM32主控模块的控制下，将多片选NAND FLASH存储模块存储的数据传至上位机。本发明的装置以低成本的方式实现对大量测试数据进行高速存储记录，能够应用于各种存储测试环境，具有很好的实用价值和广泛的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 stm32 低成本 高速 存储 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于STM32的低成本高速存储测试装置，其特征在于，包括：/nSTM32主控模块(1)，用于控制采集调理电路模块(2)、ADC采集模块(3)、多片选NANDFLASH存储模块(4)、串口通信模块(5)工作；/n采集调理电路模块(2)，用于实现阻抗匹配；/nADC采集模块(3)，用于在STM32主控模块(1)的控制下，高速采集经采集调理电路模块(2)处理后的信号；/n多片选NAND FLASH存储模块(4)，用于在ADC采集模块(3)采集完成后，在STM32主控模块(1)的控制下，持久性存储测试数据；/n串口通信模块(5)，用于在STM32主控模块(1)的控制下，将多片选NAND FLASH存储模块(4)存储的数据传至上位机。/n
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