[发明专利]基于STM32的低成本高速存储测试装置

说明书

本发明公开一种基于STM32的低成本高速存储测试装置，包括STM32主控模块，用于控制采集调理电路模块、ADC采集模块、多片选NAND FLASH存储模块、串口通信模块工作；采集调理电路模块，用于实现阻抗匹配；ADC采集模块，用于在STM32主控模块的控制下，高速采集经采集调理电路模块处理后的信号；多片选NAND FLASH存储模块，用于在ADC采集模块采集完成后，在STM32主控模块的控制下，持久性存储测试数据；串口通信模块，用于在STM32主控模块的控制下，将多片选NAND FLASH存储模块存储的数据传至上位机。本发明的装置以低成本的方式实现对大量测试数据进行高速存储记录，能够应用于各种存储测试环境，具有很好的实用价值和广泛的应用前景。

技术领域

本发明属于测控技术领域，特别涉及一种基于STM32的低成本高速存储测试装置。

背景技术

存储测试是在对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下，在被测体或测试现场放置微型数据采集与存储测试仪，现场实时完成信息的快速采集与记忆，事后回收并由计算机处理和再现测试信息的一种动态测试技术。存储测试的主要技术特点是现场实时快速完成动态数据采集与存储记忆，特别是在多种恶劣环境和紧凑设计条件下完成动态参数测试，事后回收处理再现。随着电力系统的发展与完善，对电信号存储测试装置的精确性、传输速度、成本等各方面指标都提出了更高的要求。传统的存储测试装置如：中国专利CN207601777U公开了一种高速数据存储装置，该装置使用FPGA芯片高速采集，但成本过于昂贵，难以得到普及；中国专利CN201621087089.0公开了一种基于STM32的微震数据采集与存储系统，该系统采集速率很难满足高速(采样速率≥10MBPS)的要求，无法应对更高要求的测试环境。

由上可知，传统的电信号存储测试装置的存储空间和通信速度有限，普遍具有容量小、实时性差、精度低、成本高等缺点。研究一种低成本高精度的高速存储测试装置具有重要的意义。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于STM32的低成本高速存储测试装置，能够以一种低成本的方式实现电信号的高精度高速存储测试。

实现本发明目的的技术解决方案为：一种基于STM32的低成本高速存储测试装置，包括：

STM32主控模块，用于控制采集调理电路模块、ADC采集模块、多片选NAND FLASH存储模块、串口通信模块工作；

采集调理电路模块，用于实现阻抗匹配；

ADC采集模块，用于在STM32主控模块的控制下，高速采集经采集调理电路模块处理后的信号；

多片选NAND FLASH存储模块，用于在ADC采集模块采集完成后，在STM32主控模块的控制下，持久性存储测试数据；

串口通信模块，用于在STM32主控模块的控制下，将多片选NAND FLASH存储模块存储的数据传至上位机。

本发明与现有技术相比，其显著优点为：1)本发明使用的芯片及元器件价格低廉，成本低；2)本发明通过流水线方式控制多片选NAND FLASH芯片，相比于同类型产品的1MSPS的采集速度，本发明可达到10MSPS以上的高速采集速度。

下面结合附图对本发明作进一步详细描述。

附图说明

图1为本发明基于STM32的低成本高速存储测试装置的系统框图。

图2为本发明基于STM32的低成本高速存储测试装置的STM32主控模块电路图。

图3为本发明基于STM32的低成本高速存储测试装置的采集调理电路模块电路图。

图4为本发明基于STM32的低成本高速存储测试装置的ADC采集模块电路图。