[发明专利]一种检测变电设备缺陷的方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910653908.5 申请日: 2019-07-19
公开(公告)号: CN110567964B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 张继勇;蔡恒;庄浩;刘鑫;韩立群 申请(专利权)人: 华瑞新智科技(北京)有限公司;华瑞新智保定科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06K9/62
代理公司: 北京君慧知识产权代理事务所(普通合伙) 11716 代理人: 王素花
地址: 100083 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种检测变电设备缺陷的方法,包括:接收采集设备发送的图像,其中,所述图像中包含所述变电设备的至少部分结构,所述图像包括可见光图像以及红外图像;通过预先训练的识别模型,在所述可见光图像中确定所述变电设备是否存在缺陷;并通过预存的所述变电设备各部分结构的常规温度,以及在所述红外图像中确定的所述变电设备的至少部分结构的实际温度,确定所述变电设备是否存在缺陷。在通过可见光图像来判断变电设备是否存在缺陷的同时,通过红外图像来根据温度的变化判断变电设备是否存在缺陷,可以更准确的判断变电设备是否存在缺陷,保证了设备的稳定性。
搜索关键词: 一种 检测 变电 设备 缺陷 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
1.一种检测变电设备缺陷的方法,其特征在于,包括:/n接收采集设备发送的图像,其中,所述图像中包含所述变电设备的至少部分结构,所述图像包括可见光图像以及红外图像;/n通过预先训练的识别模型,在所述可见光图像中确定所述变电设备是否存在缺陷;其中,在训练所述识别模型时,输入为包含所述变电设备的图像,输出为所述变电设备是否存在缺陷;并/n通过预存的所述变电设备各部分结构的常规温度,以及在所述红外图像中确定的所述变电设备的至少部分结构的实际温度,确定所述变电设备是否存在缺陷。/n
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